Ученый ТУ обнаружил весной 15 бракованных ID-карт: департамент связь с недавним кризисом отрицает

Руководитель сферы eID Департамента государственной инфосистемы (RIA) Маргус Арм, комментируя сегодняшнюю новость о том, что докторант ТУ еще весной обнаружил аномалии в 15 ИД-картах, говорит, что это никак не связано с выявленной чешскими учеными уязвимостью чипов, которая привела к т. н. кризису ИД-карт.

”Описанная ошибка не была связанна с риском безопасности чипов Infineon, который обнаружили чешские ученые и о котором Эстонии стало известно в конце августа. Отдельные бракованные карты встречались и раньше. При обнаружении ошибки они сразу закрывались и обменивались на новые в гарантийном порядке. Ни одну из соответствующих требованию ИД-карт ученым так и не удалось взломать”, — сказал Арм.

Сегодня издание Postimees написало о том, что докторант и лектор Тартуского университета Арнис Паршовс задолго до конца лета обнаружил аномалию в процессе распознавания ИД-карт. Всего в обороте находилось 15 бракованных карты, которые были закрыты в начале июня этого года.